Автоматизированные системы измерения толщины покрытий 3 товара

Сортировать по: Популярность
Плиткой Списком
Система измерения FISCHERSCOPE X-RAY 4000
Предназначена для непрерывного рентгенофлюоресцентного анализа и измерения тонких и многослойных покрытий в составе производственных линий. Есть возможность выбрать рентгеновский источник и детектор в зависимости от требований контроля объекта. Максимальная измеряемая ширина 950 мм.
Производитель: Helmut Fischer
Цена: По запросу
Добавить в закладки
Модульная система измерения FISCHERSCOPE X-RAY 5000
Имеет фланцевую измерительную головку для непрерывного рентгенофлюоресцентного анализа покрытий на производственных линиях. Есть возможность выбрать рентгеновский источник и детектор в зависимости от требований контроля объекта.
Производитель: Helmut Fischer
Цена: По запросу
Добавить в закладки
Система измерения FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI
Предназначена для автоматизированного контроля качества материалов на линиях сборки 2.5D/3D в полупроводниковой промышленности. Измеряет компоненты диаметром до 10 мкм.
Производитель: Helmut Fischer
Цена: По запросу
Добавить в закладки